近接场光学显微分光系统
日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列，世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。
地物光谱仪FieldSpec 3
FieldSpec 3便携式地物波谱仪是美国ASD公司(Analytical Spectral Devices)的新产品，适用于从遥感测量，农作物监测，森林研究到工业照明测量，海洋学研究和矿物勘察的各方面应用。操作简单，软件包功能强劲。
自动绝对反射率测量系统
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角